品牌 | 其他品牌 | 規(guī)格 | FHA-25C-100-E250-C |
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供貨周期 | 一個月以上 | 主要用途 | 半導(dǎo)體、面板 |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子 |
采用嚙合運動法的測試儀器可以滿足這種要求;齒輪刀具生產(chǎn)廠需要專門的刀具檢查儀。
因此一種測量方式,一種儀器是難以滿足不同規(guī)格的齒輪生產(chǎn)廠,不同的產(chǎn)品質(zhì)量和加工工藝的檢測要求,日本哈默納科DD馬達FHA-25C-100-E250-C測試技術(shù)、儀器品種和規(guī)格必將呈現(xiàn)多樣化、系列化的發(fā)展趨勢。
五、新技術(shù)應(yīng)用的發(fā)展
〔一)齒輪整體誤差技術(shù)的應(yīng)用
齒輪工作齒面上所有誤差的集合體被稱為齒輪整體誤差,整體誤差技術(shù)包括整體誤差測量方法,整體誤差集合內(nèi)各項誤差大小、變化規(guī)律及相互關(guān)系,整體誤差與傳動質(zhì)量關(guān)系以及與加工工藝的關(guān)系等多方面的研究。該技術(shù)在國內(nèi)外得到越來越廣泛的應(yīng)用。
大齒輪生產(chǎn)量少,開發(fā)專門的大型齒輪測日本哈默納科DD馬達FHA-25C-100-E250-C量儀需要大量資金及相關(guān)技術(shù)的支持,開發(fā)大型座式儀器是不經(jīng)濟的,新型測量方法的研究就是用簡單經(jīng)濟的手段測量大規(guī)格齒輪,這類方法有上置式直角坐標(biāo)法、在機展成或直角坐標(biāo)法以及各種代漸開線法。
光電測試技術(shù),如利用CCD測量齒輪誤差的方法在小模數(shù)齒輪測量時有較好的應(yīng)用前景;成都工具研究所開發(fā)的CZ150整體誤差測量儀將間齒蝸桿測試新技術(shù)成功地應(yīng)用于小模數(shù)齒輪測量。